材料现代研究方法实验指导书

章节摘录

版权页：   插图：   6透射电子显微镜样品的制备方法 由于透射电子显微镜的出现，材料显微分析技术得到了进一步的发展。然而这种使用电子束作为照明源的仪器受电子束穿透能力较低的影响，样品必须非常薄才能被电子束穿透，这就要求样品多为厚度在10～2001101之间的薄膜。101样品制备是研究中至关重要的一环，制备出好的薄膜样品才能得到好的结果。传统的常规透射电子显微镜样品制备方法有很多，例如电解双喷、化学减薄、解理、粉碎研磨、超簿切片、聚焦离子束、机械减薄和离子减薄，以上方法制备的样品为材料本体，称为直接样品。表面复型技术的发展使得透射电子显微镜可用于观察非薄膜金属及其他材料的显微组织，由于这种方法是将材料表面的浮凸进行复制，将复制出的薄膜作为观察对象，故这种样品称为间接样品。样品的制备方法有很多，应该根据材料的类型和所要获取的信息进行有效的选择。本节将分两类着重介绍应用较广的表面复型、电解双喷和离子减薄等样品制备方法。 首先，无论哪种样品制备方法，对于在透射电子显微镜中研究的样品具体提出以下几点要求： （1）在进行观察时，样品被置于载样網网上，锏网的直径约为2～3^11111，所观察的样品最大尺度不得超过载物锎网的直径，而且样品的厚度必须薄到电子束可以穿透的程度，具体视加速电丨玉和样品材料而异，一般在加速电压为1001^^的情况下，样品厚度不能超过1000～2000A； （2）由于镜筒中为真空状态，样品中如含有水分、易挥发及腐烛性等物质，在制备后需要加以处理，另外样品需要一定的强度和稳定性，不至于在电子束作用下发生变化； （3）样品需要非常洁净，以保证图片质量和研究效果，样品不能带荷电。 下面来具体介绍透射电子显微镜样品的制备方法。 直接样品的制备 2.6.1.1一般样品的制备 目前直接样品的制备方法有很多，但是在一般情况下，总体来说制备过程分以下几步： （1）初减薄——制备厚度约为100～200μm的薄片； （2）从薄片上切取3mm的薄片； （3）从圆片的一侧或者两侧将圆片中心区域剪薄至数微米； （4）终减簿。

书籍目录

第1章X射线衍射分析技术 1.1X射线的物理学本质 1.1.1X射线的产生 1.1.2X射线的性质 1.1.3X射线谱 1.1.4X射线与物质的相互作用 1.2X射线的衍射原理 1.2.1倒易点阵简介 1.2.2X射线的衍射方向 1.2.3X射线衍射束的强度 1.3X射线衍射方法 1.3.1X射线衍射仪的结构 1.3.2X射线衍射仪的测量 1.4X射线衍射物相定性分析 1.4.1分析原理 1.4.2衍射卡片 1.4.3卡片索引及检索方法 1.4.4物相定性分析过程 1.4.5计算机物相检索 1.5X射线衍射物相定量分析 1.5.1定量分析原理 1.5.2定量分柝方法 1.6宏观应力的测定 1.6.1宏观应力及X射线测量宏观应力原理 1.6.2宏观应力测定的基本原理 1.6.3宏观应力测定的测试方法 实验1X射线衍射多物相分析 实验目的及要求 实验条件 实验步骤 思考题 实验报告 参考文献 …… 第2章透射电子显微分析技术 第3章扫描电子显微镜与电子探针分析技术

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《普通高等教育"十二五"规划教材:材料现代研究方法实验指导书》由冶金工业出版社出版。

作者简介

《普通高等教育"十二五"规划教材:材料现代研究方法实验指导书》共分为6个实验：实验一：X射线衍射技术及单物相定性分析；实验二：多晶混合物相定性分析；实验三：扫描电镜显微电子图像观察；实验四：电子探针结构原理及分析方法；实验五：透射电子显微镜样品制备；实验六：透射电镜显微电子图像观察。《普通高等教育"十二五"规划教材:材料现代研究方法实验指导书》是材料成型及控制工程专业本科生专业基础课的实验指导用书，可使学生了解与掌握了与专业科研工作密切相关的重要分析测试仪器原理、制样方法、分析特性、数据解读等知识，为将来从事的科学研究及技术开发工作打下良好基础。

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