测量系统分析

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第l章　概论1.1测量系统分析基本概念1.1.l关于数据1.1.2数据的质量1.1.3关于测量系统分析1.2有关术语1.2.1术语比较1.2.2有关测量和测量结果的术语1.2.3有关测量系统的术语1.3与其他相关内容之间的关系1.3.1统计过程控制(SPC)与测量系统分析(MSA)1.3.2测量不确定度与测量系统分析1.3.3ISOl0012与测量系统分析1.3.4QS-9000、ISO／TS16949与测量系统分析1.3.5六西格玛(6sigma)与测量系统分析1.4应用软件选择第2章　测量系统分析数理统计基础2.1数据的分类及描述2.1.1数据的分类2.1.2数据的图示化描述2.1.3描述性统计2.2概率分布函数2.2.1概率密度函数2.2.2累积分布函数2.2.3累积分布函数逆函数2.3离散变量典型分布2.3.1二项分布2.3.2超几何分布2.3.3泊松分布2.4连续变量典型分布2.4.1正态分布2.4.2卡方()[‘)分布2.4.3￡分布2.4.4F分布2.5参数估计2.5.1运用估计量估计参数2.5.2点估计2.5.3区间估计2.5.4置信区间辨释2.5.5正态总体参数的置信区间和单侧置信限2.5.6二项分布的比率估计2.6假设检验2.6.1假设检验基本概念2.6.2假设检验的逻辑步骤2.6.3正态总体均值的检验2.6.4正态总体方差的检验2.6.5比率p的假设检验2.7方差分析2.7.1方差分析概念2.7.2单因子方差分析2.7.3两因子方差分析2.8简单线性回归分析2.8.1一元线性回归模型2.8.2参数估计2.8.3方程的显著性检验2.8.4估计与预测2.9列联表2.9.1二维列联表的检验问题2.9.2二维列联表的X2检验2.9.3二维列联表的费希尔(Fisher)精确检验2.10非参数统计2.10.1关于非参数统计2.10.2次序(顺序)统计量、秩和秩统计量2.10.3相关性检验2.10.4一致性检验第3章　测量系统分析原理3.1测量过程特征3.2测量系统变差的类型3.2.1位置变差3.2.2宽度变差3.3研究变差3.4测量系统变差来源及对决策的影响3.4.1测量系统变差来源3.4.2对决策的影响3.5测量系统能力和性能3.5.1测量系统能力3.5.2测量系统性能3.6测量系统的统计特性第4章　测量系统分析方法4.1概述4.1.1测量系统分析的过程方法4.1.2测量系统类型4.1.3测量系统评估程序的适用性4.2简单测量系统分析流程4.3测量系统研究的准备4.3.1研究准备4.3.2可接受性准则4.4简单测量系统研究指南4.4.1计量型测量系统研究指南4.4.2计数型测量系统研究指南4.4.3属性一致性研究4.5复杂测量系统研究指南4.5.1研究背景4.5.2破坏性测量的GRR研究的试验设计4.5.3其他应注意的内容4.5.4案例研究第5章　测量系统分析的应用5.1供方测量保证能力5.2制造业案例研究5.2.1计数型数据的属性一致性分析5.2.2同质小批量破坏性检验时的测量系统分析5.3非制造业案例研究5.3.1适用于连续型数据的非传统(Non—Traditional)的测量系统分析5.3.2有序数据的属性一致性分析第6章　测量系统管理与改进6.1公司范围的MSA规划6.2测量系统改进6.3顾客的认可附录附录1　偏倚研究用以参数表附录2　控制图系数表附录3　GRR研究计算置信区间的ANOVA法附录4　量具重复性和再现性研究(平均值和极差法)记录格式附录5　测量设备计量确认过程参考文献

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　　本书主要内容分为三大部分共六章，第一部分主要是对测量系统分析基本概念以及与其他专业内容之间关系的介绍；第二部分是对测量系统分析理论的阐述，重点是测量系统变差研究的数理统计基础内容；第三部分包括测量系统分析的应用和改进，主要介绍不同行业的案例分析，以及为实现测量系统持续改进的管理策略。　　本书可作为各领域质量专业的培训教材，是实施ISO／TS 16949和相关标准或规范以及六西格玛管理法的指南，也可作为质量技术人员，质量咨询师，质量审核员，六西格玛绿带、黑带及广大实际工作者的参考书。

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