可靠性物理

出版日期:2015-10
ISBN:9787121272326
作者:恩云飞,谢少锋,何小琦
页数:444页

作者简介

本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。